2026-11-06 · 投资额 5,000 万元
项目总投资5000万元,用于购置高温高湿反偏老化系统、温湿度及温度冲击试验箱、X射线光电子能谱仪。 项目主要内容为提升半导体器件检测与可靠性试验技术服务能力,优化功率循环、高温高湿反偏(H3TRB)等测试流程,有效提升车规级器件及第三代半导体器件的检测精度与稳定性。同时,建立严格的覆盖AEC-Q、JEDEC、IPC及MIL-STD标准的可靠性验证与失效分析体系,完成半导体器件全链条的全面检测与验证
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